关于召开“高可靠性功率器件及系统的测试与保障研讨会”的通知

西安高新区创业园发展中心与西安芯派电子有限公司将联合举办“高可靠性功率器件及系统的测试与保障”研讨会。邀请同行业企业、科研院所同行朋友共同参加。同期西安半导体功率器件应用测试中心将正式开业。
       研讨会主题：
1.半导体功率器件测试技术的发展以及市场分析、技术应用和系统解决方案等相关主题进行深入交流和探讨。
2.新型半导体功率器件测试行业技术标准、IC的设计、制造、封装技术等。
现热忱欢迎有志于功率器件研究与发展的朋友们，与我们一起用我们敏锐的双眼，勤劳的双手和聪慧的大脑，去探索功率器件世界的无穷奥秘。
 详情请登录：www.semipower.com.cn下载报名表格
 参会嘉宾：
 STI公司总裁Bran-don Bailey先生
 美国ITC公司技术开发总监David J. Lohr先生
 美国KYDD CON-SULTING公司总裁Dou-glas Lamond先生
 美国Qualmark总裁Andy Drenick先生
 国内著名的半导体企业、半导体行业协会以及行业专家。 
 地点：香格里拉酒店2楼西安厅
 时间：2011年11月16日
 报名联系人：全静
       联系电话：
       88251977-8002